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超声波探伤仪标准试块
  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2025-08-28
  • 访  问  量:69
简要描述:

CSK-IA超声波探伤仪标准试块该试块适用于用检查超声检测系统灵 敏度余量的变化情况及水平线性,检查超 声检测仪增益线性和衰减器准确度两者的 综合效果。

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CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的

超声波探伤仪标准试块主要用途有:

1利用R100mm曲面测定斜探头的 入射点和前沿长度;

2利用50和1.5mm圆孔测定 斜探头的折射角;

3利用试块直角棱边测定斜探头 声束轴线的偏离情况;

4利用25mm厚度测定探伤 仪水平线性、垂直线性和动态范围;

5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;

6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;

7利 用50、44和40mm 三个台阶孔测定斜探头分辨力。

 

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